












測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
25.2~158.4X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
重復精度
總放大倍率
物方視場
工作距離
光柵尺解析度

新聞資訊
News時間:11-03 2023 來自:祥宇精密
一、問題分析
顯微鏡的光學系統包括物鏡、目鏡和聚光鏡等。如果這些部件出現磨損、污損或調試不當,會導致影像模糊。此時需要檢查光學部件是否清潔,調試是否正確。
照明光線過強或過弱,會影響觀察效果。過強的光線會產生反光,過弱的光線會使影像對比度降低。需要檢查光源是否穩定,光線是否聚焦在樣品上。
樣品表面不平整、有雜質或厚度不均勻,也會導致影像模糊。此時需要檢查樣品是否符合要求,如厚度是否均勻,表面是否平整等。
環境因素如濕度、溫度和振動等也可能影響顯微鏡的觀察效果。需要檢查實驗室環境是否符合顯微鏡的使用要求。
二、解決方案
定期清潔顯微鏡的光學部件,如物鏡、目鏡和聚光鏡等。使用無塵紙或鏡頭紙輕輕擦拭,注意避免劃傷鏡面。如需使用溶劑,請選擇適當的清潔劑并按照說明書操作。
根據觀察的需要,對顯微鏡的焦距、光圈和物鏡等進行調整。如出現影像模糊或失真現象,可適當調整聚光鏡的高低位置,以達到最佳觀察效果。若問題仍未解決,建議咨詢專業維修人員進一步調試。
通過調節光源的亮度、對比度和色溫等參數,使觀察效果達到最佳。同時,確保光線聚焦在樣品上,避免產生反光現象。如使用LED光源,建議選擇具有可調亮度和色溫的光源。
在觀察前對樣品進行嚴格檢查,確保樣品表面平整、無雜質且厚度均勻。如樣品質量不符合要求,需進行處理或更換合格樣品。
為確保顯微鏡的正常運行和觀察效果,應控制實驗室內的溫度、濕度和振動等環境因素。保持實驗室清潔干燥,避免灰塵和振動對顯微鏡的影響。如有必要,可采取相應的減震措施以減小環境振動對顯微鏡的影響。
三、實用技巧與建議
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